HEIDENHAIN iTNC 530 Gebruikershandboek pagina 349
Verberg thumbnails
Zie ook voor iTNC 530:
- Bedieningshandboek (563 pagina's) ,
- Gebruikershandboek (693 pagina's) ,
- Gebruikershandboek (749 pagina's)
Advertenties
Afzonderlijk patroon definiëren
Wanneer u een werkstukoppervlak in Z ongelijk aan 0
definieert, dan werkt deze waarde aanvullend op het
werkstukoppervlak Q203 dat u in de bewerkingscyclus
hebt gedefinieerd.
De parameters Rotatiepositie hoofdas en
Rotatiepositie nevenas zijn een uitbreiding van een
eerder doorgevoerde Rotatie van het complete patroon.
Startpunt X (absoluut): coördinaat van het startpunt
van het patroon in de X-as
Startpunt Y (absoluut): coördinaat van het startpunt
van het patroon in de Y-as
Afstand bewerkingsposities X (incrementeel):
afstand tussen twee bewerkingsposities in X-richting.
In te voeren waarde kan positief of negatief zijn
Afstand bewerkingsposities Y (incrementeel):
afstand tussen twee bewerkingsposities in Y-richting.
In te voeren waarde kan positief of negatief zijn
Aantal kolommen: totaal aantal kolommen van het
patroon
Aantal regels: totaal aantal regels van het patroon
Rotatiepositie van het gehele patroon (absoluut):
rotatiehoek waarmee het gehele patroon om het
ingevoerde startpunt wordt geroteerd. Referentie-as:
hoofdas van het actieve bewerkingsvlak (bijv. X bij
gereedschapsas Z). In te voeren waarde kan positief
of negatief zijn
Rotatiepositie: rotatiehoek waarmee uitsluitend de
hoofdas van het bewerkingsvlak ten opzichte van het
ingevoerde startpunt wordt vertekend. In te voeren
waarde kan positief of negatief zijn
Rotatiepositie nevenas: rotatiehoek waarmee
uitsluitend de nevenas van het bewerkingsvlak ten
opzichte van het ingevoerde startpunt wordt
vertekend. In te voeren waarde kan positief of
negatief zijn
Coordinaat werkstukoppervlak (absoluut): Z-
coördinaat invoeren waarbij de bewerking moet
starten
HEIDENHAIN iTNC 530
Voorbeeld: NC-regels
10 L Z+100 R0 FMAX
11 PATTERN DEF
PAT1 (X+25 Y+33,5 DX+8 DY+10 NUMX5
NUMY4 ROT+0 ROTX+0 ROTY+0 Z+0)
349
Advertenties
