Configuratiescherm voor het evaluatieprofiel
Menuscherm voor de evaluatievoorwaarden
Wijzigen van de bemonsteringslengte (L)/cut-off lengte (λs) van het niet-
7.3.2.2
gefilterde profiel P
Wanneer
bemonsteringslengte (L) en de cut-off lengte (λs) weergegeven op het scherm voor de
configuratie van de evaluatievoorwaarde als evaluatiegerelateerde variabele parameters.
Wijzig indien nodig bemonsteringslengtes (L) en cut-off lengte (λs).
■ Relatie tussen bemonsteringslengtes (L) en cut-off lengte (λs)
Wanneer een bemonsteringslengte (L) is ingesteld, wordt een cut-off lengte (λs) ingesteld
op een van de waarden net zoals hieronder wordt weergegeven.
Het symbool dat wordt gebruikt om de wijzigingen van de meetbemonsteringslengte aan
te geven volgens de ingestelde ruwheidsnorm. Wanneer de ruwheidsnormen "JIS2001",
"ISO1997", "VDA" of "Free" zijn geselecteerd, wordt "ℓp" weergegeven. Wanneer de
ruwheidsnorm "JIS1982" is geselecteerd, wordt "ℓ" weergegeven.
Meetbemonsteringslengte (L)
25 mm (984,251 inch)
7-8
2
Tik op een evaluatieprofiel dat u wilt gebruiken en tik op
het
niet-gefilterde
0,08 mm (0,003 inch)
0,25 mm (0,009 inch)
0,8 mm (0,031 inch)
2,5 mm (0,098 inch)
8 mm (0,314 inch)
Het geselecteerde evaluatieprofiel wordt weergegeven op het
menuscherm voor de evaluatievoorwaarden.
profiel
(P)
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (98,425 μinch, 314,960 μinch,
984,251 μinch), (NONE)
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (98,425 μinch, 314,960 μinch,
984,251 μinch), (NONE)
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (98,425 μinch, 314,960 μinch,
984,251 μinch), (NONE)
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (98,425 μinch, 314,960 μinch,
984,251 μinch), (NONE)
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (98,425 μinch, 314,960 μinch,
984,251 μinch), (NONE)
2,5 μm, 8 μm, 25 μm, (98,425 μinch, 314,960 μinch,
984,251 μinch), (NONE)
wordt
geselecteerd,
Cut-off lengte (λc)
.
worden
de
Nr. 99MBB465N