8.2
Laagohmse weerstand/doorgangsmeting
8.2.1 Laagohmse weerstand R LOW
BENNING IT 130
Meetbereik volgens EN 61557-4: 0,16 1999
Meetbereik R ()
0,00 19,99
20,0 199,9
200 1999
8.2.2 Doorgangsmeting
Meetbereik R+, R- ()
0,0 199,9
200 1999
Nullastspanning ..................................... 6,5 V DC 9 V DC
Meetstroom ............................................ min. 200 mA bij lastweerstand van 2
Compensatie van testdraad .................... tot 5
Aantal mogelijke tests ............................. > 2000, bij volledig geladen batterijen/accu
Automatische polariteitsomkering van de testspanning.
8.3
Aardlekschakelaar RCD
8.3.1 Algemene gegevens
Meetbereik: ()
0,0 19,9
20 1999
Nullastspanning ..................................... 6,5 V DC 9 V DC
Kortsluitstroom ........................................ max. 8,5 mA
Compensatie van testdraad .................... tot 5
Nominale activeringsverschilstroom (A, AC) . 10 mA, 30 mA, 100 mA, 300 mA, 500 mA,
Nominale activeringsverschilstroom (EV, MI) 30 mA AC, 6 mA DC
Nauwkeurigheid ............................................ -0 / +0,1I; I = IN, 2IN, 5IN
Vorm van de teststroom ................................ sinusvormig (type AC, type EV/MI [AC deel]),
..................................................................... pulserend (type A, type F),
..................................................................... gladde gelijkstroom (type B, type B+,
..................................................................... type EV/MI [DC deel])
DC-offset voor pulserende teststroom .......... 6 mA (typisch)
RCD-type ...................................................... onvertraagd, vertraagd (S)
Beginpolariteit van teststroom ....................... 0° of 180°
Nominaal spanningsbereik............................ 93 V 134 V (45 Hz 65 Hz)
Resolutie ()
0,01
0,1
1
Resolutie ()
0,1
1
Resolutie ()
0,1
1
1000 mA
-0,1I / +0; I = 0,5IN
AS/NZS: ± 5 %
185 V 266 V (45 Hz 65 Hz)
- 72 -
Technische gegevens
Nauwkeurigheid
(3 % van meetwaarde + 3 digit)
(5 % van meetwaarde )
Nauwkeurigheid
(5 % van meetwaarde + 5 digit)
Nauwkeurigheid
(5 % van meetwaarde + 3 digit)