Inhoudsopgave
Advertenties
Meetvlak (3D-fase en 3D-stereo)
Een meetvlak is geen op zichzelf staand metingstype en geeft geen resultaat. Als het meetvlak wordt gebruikt met specifieke metingstypen, biedt
het de mogelijkheid om cursors te plaatsen in rode gebieden waar geen 3D-gegevens aanwezig zijn of waar ruis in de 3D-gegevens mogelijk
de meetnauwkeurigheid vermindert.
Zodra het meetvlak is geplaatst, legt het een 3D-vlak vast dat is uitgelijnd met een plat oppervlak op de oppervlakte van het weergegeven object. Het
vlak breidt zich mathematisch uit over de randen van de oppervlakte, over het gehele beeld. De aanwezigheid van een meetvlak beïnvloedt de specifieke
meettypen als volgt:
• Lengte, punt tot lijn, multi-segment en oppervlak: Alle cursors worden op het meetvlak geprojecteerd, en het resultaat wordt berekend
met de geprojecteerde posities op het vlak.
• Diepte: De eerste drie cursors selecteren individuele oppervlaktepunten zoals bij een normale dieptemeting. Alleen de vierde cursor wordt
op het meetvlak geprojecteerd.
• Diepteprofiel: Het meetvlak wordt gebruikt als referentievlak. De cursors van het diepteprofiel kunnen de randen dus overlappen of ze kunnen zich in
rode gebieden bevinden. De resulterende afmeting toont de hoogte of diepte vanaf het meetvlak. Alleen te gebruiken met platte referentievlakken.
• Oppervlaktediepteprofiel: Beide referentielijnen worden op het meetvlak geplaatst, waardoor ze door rode gebieden of oppervlaktekuilen kunnen lopen
zonder dat dit een invloed heeft op de profielen die tussen de referentielijnen worden genomen. De resulterende afmeting toont de hoogte of diepte
vanaf het meetvlak. Alleen te gebruiken met platte referentievlakken.
Toepassingen voor gebruik van een meetvlak zijn onder meer:
• Meting in een gebied van een ontbrekende hoek, waarbij een cursor wordt geplaatst in de ruimte waar zich vroeger de hoek bevond.
• Punt-tot-lijn-meting van een ontbrekende hoek of indicatie langs een rand waar door het ontbreken van 3D-gegevens of data-artefacten een juiste
cursorplaatsing wordt verhinderd.
• Lengte- of punt-tot-lijn-metingen van kleine elementen op platte oppervlakken wanneer er aanzienlijke ruis van 3D-gegevens is ten opzichte van de
grootte van het element. Dit valt vaak voor wanneer de tip niet dicht genoeg bij de indicatie kan worden bewogen om een betere gegevenskwaliteit
te verkrijgen.
• Dieptemeting van vrije ruimte tussen tip en beschermkap van turbineschoep waarbij 3D-gegevens langs de rand van de schoep ontbreken of artefacten
vertonen. Dit is vaak te wijten aan een grote MTD. De meting kan worden uitgevoerd door de cursors van het meetvlak op de voorzijde van de schoep
te plaatsen, de eerste drie dieptecursors op de beschermkap en de vierde dieptecursor op de rand van de schoep, dichtbij het meetvlak.
• Met het oppervlaktediepteprofiel, bij het meten van een veld van kuilen op een plat oppervlak.
Opmerking: Omdat de vierde dieptecursor op het meetvlak wordt geprojecteerd, mag u NIET een dieptemetingstype met een meetvlak selecteren
voor de meting van kuilen of deuken.
Opmerking: Wanneer een door de gebruiker gedefinieerd meetvlak is toegevoegd aan een beeld, maken alle metingen die worden toegevoegd
voor of na het inbrengen van het vlak gebruik van het meetvlak.
62
Advertenties
Inhoudsopgave
Probleemoplossen
