3 Productbeschrijving
Voorwaarden voor de
scheidingslaagmeting
10
dingslaag voor een tweede maal gereflecteerd. De looptijden door de
beide mediumlagen worden door het instrument geanalyseerd.
h2
h1
Fig. 4: Scheidingslaagmeting
1
Sensorreferentievlak (afdichtingsvlak van de procesaansluiting)
d1 Afstand tot scheidingslaag
d2 Afstand tot niveau
TS Dikte van het bovenste medium (d1 - d2)
h1 Hoogte - scheidingslaag
h2 Hoogte - niveau
L1 Onderste medium
L2 Bovenste medium
L3 Gasfase
Bovenste medium (L2)
•
Het bovenste medium mag niet elektrisch geleidend zijn
•
De diëlektrische constante van het bovenste medium of de actuele
afstand tot de scheidingslaag moet bekend zijn (invoer nood-
zakelijk). Minimale diëlektrische constante: 1,6. Een lijst met de
diëlektrische constanten vindt u op onze homepage.
•
De samenstelling van het bovenste medium moet stabiel zijn,
geen wisselende media of mengverhoudingen
•
Het bovenste medium moet homogeen zijn, geen lagen binnen
het medium
•
Minimale laagdikte van het bovenste medium 50 mm (1.97 in)
•
Duidelijke scheiding ten opzichte van het onderste medium. Emul-
siefase of molmlaag max. 50 mm
•
Zo mogelijk geen schuim aan het oppervlak.
Onderste medium (L1)
•
DK-waarde minimaal 10 hoger dan de DK-waarde van het boven-
ste medium, bij voorkeur elektrisch geleidend. Voorbeeld: boven-
ste medium DK-waarde 2, onderste medium DK-waarde min. 12.
Gasfase (L3)
•
Lucht of gasmengsel
•
Gasfase - afhankelijk van de toepassing niet altijd aanwezig (d2
= 0)
L3
L2
L1
VEGAFLEX 86 • Modbus- en Levelmaster-protocol
1
d2
d1
TS