Inhoudsopgave
Advertenties
22
Richtlijnen en verklaring van de fabrikant
over EMC
22.1
Elektromagnetische compatibiliteit
WAARSCHUWING
De Agilia ProNeo-pomp en bijbehorende accessoires zijn bedoeld
voor gebruik in de elektromagnetische omgeving die hieronder wordt
gespecificeerd.
De klant en/of de gebruiker van de Agilia ProNeo-pomp moet(en) ervoor
zorgen dat de pomp in een dergelijke omgeving wordt gebruikt.
De Agilia ProNeo-pomp mag niet worden gebruikt in de aanwezigheid
van een sterk elektromagnetisch veld, bijvoorbeeld het magnetische
veld dat wordt gegenereerd door bepaalde elektrisch gevoede
medische apparaten. De pomp mag niet worden gebruikt bij MRI.
Bij een langdurige blootstelling aan omgevingen waarin wordt
gewerkt met röntgenstraling, kunnen de elektronische componenten
van het apparaat beschadigd raken en kan de nauwkeurigheid van
de infusiesnelheid worden beïnvloed. Voor een veilig gebruik raden
we het volgende aan:
- Plaats het apparaat altijd zo ver mogelijk van de patiënt en de
- Beperk het gebruik van het apparaat in dergelijke omgevingen.
Wanneer de Agilia ProNeo is gemonteerd op de Link+ Agilia, is deze
bedoeld voor gebruik in een elektromagnetische omgeving zoals wordt
gespecificeerd in de gebruiksaanwijzing van de Link+ Agilia.
Met uitzondering van de gevallen die staan beschreven in dit document,
moet de pompwerking systematisch worden gecontroleerd door een
gekwalificeerde gebruiker als de pomp in de nabijheid van andere
elektrische apparaten wordt geïnstalleerd.
Voor punten (bijv. schroeven) en oppervlakken die alleen voor onderhoud
toegankelijk zijn, moeten ook voorzorgsmaatregelen worden genomen.
Voor punten (bijv. batterijcontacten voor vervanging van de batterij) en
oppervlakken die alleen bereikbaar zijn voor onderhoudspersoneel moeten
ook voorzorgsmaatregelen worden genomen.
22.2
Elektrostatische ontlading (ESD)
INFORMATIE
Elektronische componenten en halfgeleiders kunnen beschadigd
raken door elektrostatische ontlading (ESD). Met name
componenten die zijn vervaardigd met metaaloxidehalfgeleiders
(MOS) kunnen door directe of indirecte ontladingen beschadigd
raken. Schade die is veroorzaakt door elektrostatische ontlading, is
soms niet onmiddellijk herkenbaar, en zelfs na een langere periode
van gebruik kunnen er storingen optreden in het apparaat.
Als het testniveau dat in de EMC-richtlijn en verklaring van de
fabrikant staat vermeld, wordt overschreden en/of herhaald, kan het
apparaat beschadigd raken en/of kunnen er ernstige storingen
optreden (zoals communicatieverlies en systeemfouten).
bron vandaan.
94
Advertenties
Inhoudsopgave
Probleemoplossen
