V
16000
14000
12000
10000
8000
6000
4000
2000
0
10 k
100 k
1,E-02
1,E-01
10 k
100 k
8.2.4. DAR, PI EN DD
Berekening van de termen DAR en PI
Gespecificeerd gebied
Resolutie
Intrinsieke onzekerheid
Berekening van de term DD
Gespecificeerd gebied
Resolutie
Intrinsieke onzekerheid
8.2.5. CAPACITEIT
Meting van de capaciteit
Deze meting wordt gedaan na het ontladen van het geteste element, na iedere meting.
Gespecificeerd
meetgebied
Resolutie
Intrinsieke onzekerheid *
*: Deze onzekerheid wordt alleen gespecificeerd voor een testspanning van ≥ 500 V.
1 M
10 M
1,E+00
1,E+01
1,E+02
1 M
10 M
100 M
0,02 ... 50,00
0,01
± (5 % + 1 pt)
0,02 ... 50,00
0,01
± (10 % + 1 pt)
0,005 ... 9,999 µF
10,00 ... 49,99 µF
1 nF
± (10 % + 1 pt)
Kaliber 15.000 V
100 M
1 G
10 G
1,E+03
1,E+04
1 G
10 G
10 nF
± 10 %
52
100 G
1 T
1,E+05
1,E+06
1,E+07
100 G
1 T
10 T
W
10 T
100 T
1,E+08
100 T