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FLIR T10 Series Snel Aan De Slag pagina 114

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22 ZH-CN 简体中文
在垂直于目标握住热像仪时请小心。请留意反射,特别是在辐射率较低时,
您自身、热像仪或周围环境都可能成为主要反射源。
请选择高辐射率区域(例如,具有不光滑表面的区域)来进行测量。
空白对象(即辐射率低的物体)由于是反射环境的主体,因而在热像仪中可
能会表现为暖或冷。
请避免阳光直射于要测量的细节部位。
各种类型的故障(例如,建筑物构造中出现的故障)可能会产生同一类型的
热敏感图案。
正确分析红外图像要求具备该应用领域的专业知识。
#T810138; r. AC/73673/73673; mul
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