14 Geplande en voorwaardelijke inspectie-modi
Deze functionaliteiten zijn beschikbaar op SDT270 SU en DU versies. Voor instructies
om uw SDT270-versie te controleren, gaat u naar het hoofdstuk "Systeeminfo".
Geplande inspectiemodus
Voorwaardelijke inspectiemodus
14.1 Geplande inspectie
Om metingen in uw SDT270 te kunnen opslaan, is het nodig eerst een met Ultranalysis
Suite software een database aan te maken en deze in uw SDT270 toestel te laden.
14.1.1
De geplande survey-modus selecteren om metingen op te slaan
Druk op de Enter knop, en selecteer "Geplande inspectie" (Planned Survey):
Druk dan nogmaals op de Enter knop.
Een scherm geeft u de mogelijkheid te kiezen uit de geüploade inspectierondes. Selecteer de
gewenste inspectieronde m.b.v. de pijl knoppen en druk dan op de Enter knop.
14.1.2
De eerste meting selecteren
Het nieuw scherm geeft volgende informatie:
•
Het eerste meetpunt en de plaats ervan in de boomstructuur.
•
De vereiste sensor voor dit eerste meetpunt.
•
Het rangnummer en het totaal aantal meetpunten, zoals opgegeven met de Ultranalysis
Suite software.
U kan de volgorde van gegevens aanpassen met behulp van de linker en rechter pijlknoppen.
✓
Het
teken naast een sensornaam geeft aan dat er onder desbetreffende sensor reeds
gegevens aanwezig zijn.
DC.R270.MAN.005--10--SDT270-user-manual-NL.docx
23/62