Download Inhoudsopgave Inhoud Print deze pagina

Extech Instruments CG204 Gebruikershandleiding pagina 10

Laagdiktemeter
Inhoudsopgave

Advertenties

Kalibratie voor gestaalstraalde oppervlakken.
De fysieke aard van gestaalstraalde oppervlakken resulteert in hogere dan normale metingen van
de laagdikte. De gemiddelde dikte over de pieken kan als volgt worden bepaald:
1. De meter moet conform de kalibratierichtlijnen worden gekalibreerd. Gebruik een glad
kalibratiemonster met dezelfde krommingsradius en hetzelfde substraat als het te testen
apparaat.
2. Voer circa 10 metingen op het niet bekleed, gestaalstraalde monster uit om de gemiddelde
waarde Xo te krijgen.
3. Voer nogmaals 10 metingen op het niet bekleed, gestaalstraalde monster uit om de gemiddelde
waarde Xm te krijgen.
4. Het verschil tussen de twee gemiddelde waarden is de gemiddelde laagdikte Xeff over de
pieken. De grotere standaardafwijking 'S' van de twee waarden Xm en Xo moet ook in
overweging worden genomen: Xeff = (Xm - Xo) ±S
OPMERKING: Voor lagen dikker dan 300 m is de invloed van de ruwheid over het algemeen niet
van belang en daarom is het niet nodig om bovenstaande kalibratiemethodes uit te voeren.
10
CG204-EU-NL v2.2 8/13

Advertenties

Inhoudsopgave
loading

Inhoudsopgave