Download Inhoudsopgave Inhoud Print deze pagina

Advertenties

Gebruikershandleiding
Extech CG204
Laagdiktemeter

Advertenties

Inhoudsopgave
loading

Samenvatting van Inhoud voor Extech Instruments CG204

  • Pagina 1 Gebruikershandleiding Extech CG204 Laagdiktemeter...
  • Pagina 2: Inleiding

    Inleiding Gefeliciteerd met uw aankoop van de Extech CG204 Laagdiktemeter. De CG204 is een draagbare meter ontworpen voor diktemetingen van niet-invasieve lagen. De meter gebruikt twee meetmethodes: magnetische inductie (voor ijzerhoudende substraten) en wervelstroom (voor niet- ijzerhoudende substraten). Het correct gebruik en onderhoud van deze meter zal jarenlang een betrouwbare service leveren.
  • Pagina 3: De Meter Inschakelen

    3. Bij het inschakelen van de meter geeft het display de keuze uit YES (JA) of NO (NEE) weer. 4. Druk op de SET knop voor YES of de CANCEL knop voor NO. 5. Let op, alle gegevens, statistieken, kalibratiewaarden en alarmgrenzen worden in alle geheugenlokaties gewist. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 4: Programmamenu

    De kalibratiemodus sluiten De nulkalibratiegegevens (niet- Delete Zero N ijzerhoudend) wissen De nulkalibratiegegevens (ijzerhoudend) Delete Zero F wissen OPMERKING: Deactiveer de automatische uitschakeling alvorens langdurige programmawijzigingen uit te voeren om een ongelegen automatische uitschakeling tijdens het programmeren te voorkomen. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 5: Options (Opties) Menu

    (dit heeft geen invloed op de reeds geregistreerde metingen). De statistische gegevens worden ook niet langer bijgewerkt. De groepsgegevens, statistische waarden, kalibratiegegevens en alarmgrenswaarden kunnen, indien gewenst, worden verwijderd met behulp van het programmamenu. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 6: Achtergrondverlichting

    6. Druk op OK om de grens op te slaan en druk op BACK om naar het menu terug te keren. 7. Voer dezelfde stappen voor de LOW LIMIT uit. 8. Gebruik de DELETE LIMIT parameter om de alarmgrenswaarden te wissen. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 7: Delete (Verwijderen) Menu

    Foutieve metingen of uitschieters kunnen vervolgens met het gebruik van het programmamenu worden verwijderd. 4. De uiteindelijke meting is afgeleid van een statistische berekening met betrekking tot de vermelde nauwkeurigheidsspecificaties van de meter. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 8: Kalibratie

    Bereid de meegeleverde metalen substraatmonsters en benodigde films (meegeleverde kalibratiereferentiefilms) voor Stel de meter in op: a. DIR: (MENU-OPTIONS-Working Mode-Direct) b. CONTINUOUS: (MENU-OPTIONS-Measure Mode-Continuous mode [knipperende eenheidsindicator] ) c. MAX (MENU-OPTIONS-LCD Statistic-Maximum). De meter is nu klaar voor kalibratie. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 9: Nulkalibratie

    De schermresolutie kan van dergelijke aard zijn dat het tot 10 drukken kan duren alvorens 1 cijfer op het scherm wordt gewijzigd. Meer-puntkalibratie Deze methode vereist het uitvoeren van twee of meerdere sequentiële één-puntkalibraties. Voor het beste resultaat dienen de te verwachten laagdiktemetingen zich binnen de kalibratiepunten te bevinden. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 10 Xeff = (Xm - Xo) ±S OPMERKING: Voor lagen dikker dan 300 m is de invloed van de ruwheid over het algemeen niet van belang en daarom is het niet nodig om bovenstaande kalibratiemethodes uit te voeren. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 11: Opmerkingen Over Statistische Analyse

    Het display van de meter geeft “FULL” weer (in de ENKELE meetmodus). In DIRECT modus, als het geheugen vol is, zal de nieuwste meting de oudste meting vervangen en de statistieken worden bijgewerkt. CG204-EU-NL v2.2 8/13...
  • Pagina 12: Pc-Interface

    Err3: Fouten wervelstroom en magnetische inductie Err4, 5, 6: Ongebruikte foutweergaven Err7: Fout dikte Neem contact op met Extech Instruments als een probleem zich voordoet. Onderhoud Reiniging en opslag Veeg de behuizing regelmatig schoon met een vochtige doek en een mild schoonmaakmiddel, gebr uik geen schuurmiddelen of oplosmiddelen.
  • Pagina 13: Technische Beschrijving

    De nauwkeurigheid van de referentiefilms of referentienormen moet aan de meetresultaten worden toegevoegd. Ophavsret © 2013 FLIR Systems, Inc.  Alle Rechte vorbehalten, einschließlich des Rechts der vollständigen oder teilweisen Vervielfältigung in jeglicher Form ISO‐9001 Certified  www.extech.com  CG204-EU-NL v2.2 8/13...

Inhoudsopgave