Download Inhoudsopgave Inhoud Print deze pagina

Diodetest; Capaciteitsbereiken; Frequentiebereiken - Benning CM 2-1 Gebruiksaanwijzing

Inhoudsopgave

Advertenties

Apparaatbeschrijving
4.3 Meetbereiken
4.3.5

Diodetest

Overbelastingsbeveiliging: 600 V‑AC / V‑DC
Meetbereik
1,5 V
Tabel 12: Diodetest
• Nullastspanning: Ca. 1,8 V
4.3.6

Capaciteitsbereiken

Voorwaarden: Ontlaad de condensatoren en sluit de veiligheidstestkabels aan volgens de
aangegeven polariteit.
Overbelastingsbeveiliging: 600 V‑AC / V‑DC
Meetbereik
1 μF
10 μF
100 μF
1 mF
10 mF
Tabel 13: Capaciteitsbereiken (μF)
4.3.7

Frequentiebereiken

Overbelastingsbeveiliging: 600 V‑AC / V‑DC, 400 A‑AC / A‑DC
Meetbereik
50 Hz
500 Hz
5 kHz
50 kHz
Tabel 14: Frequentiebereiken (Hz)
• Minimale gevoeligheid:
– V-AC-bereik 1 Hz ... 10 kHz: >6 V
– V-AC-bereik 10 ... 50 kHz: >20 V
– A‑AC-bereik 1 Hz ... 10 kHz: >6 A
• Minimale frequentie: 1 Hz
5191 / 11/2021 nl
Resolutie
0,001 V
Resolutie
0,001 μF
0,01 μF
0,1 μF
0,001 mF
0,01 mF
Resolutie
0,01 Hz
0,1 Hz
0,001 kHz
0,01 Hz
eff
eff
eff
BENNING CM 2-1
Meetnauwkeurigheid
±(1,5 % + 5 digits)
Meetnauwkeurigheid
±(2,0 % + 5 digits)
Meetnauwkeurigheid
±(0,5 % + 5 digits)
25

Advertenties

Inhoudsopgave
loading

Inhoudsopgave