Meting van isolatieweerstand gebruikte testspanning van 500 V
Testbereik volgens IEC 61557-2 voor U
reeks
0 kOhm ... 1999 kOhm
2.00 MQ ... 19.99 MQ
20,0 MQ ... 599,9 MQ
invloedsfactor
Positie
voedingsspanning
Temperatuur
Capaciteit
nauwkeurig opgewekte spanning (Rload []1000 * UN [V]): -0% + 30% ten opzichte van de
ingestelde waarde
nominale stroom: max. 1.4 mA
verstelbare ondergrens in het traject van 0,1 MQ ... .9.9 MQ met een resolutie van 0,1 MQ
verstelbare meettijd: 3 s ... 3 min met een resolutie van 1 s en optie continue-test
Detectie van een gevaarlijke spanning alvorens een meting
ontladen van het testobject
Voor R <500 kQ de nauwkeurigheid is niet gespecificeerd.
Meting van isolatieweerstand gebruikte testspanning van 1000 V
Testbereik volgens IEC 61557-2 voor U
reeks
0 kOhm ... 1999 kOhm
2.00 MQ ... 19.99 MQ
20,0 MQ ... 599,9 MQ
invloedsfactor
Positie
voedingsspanning
Temperatuur
Capaciteit
nauwkeurig opgewekte spanning (Rload []1000 * UN [V]): -0% + 30% ten opzichte van de
ingestelde waarde
nominale stroom: max. 1.4 mA
verstelbare ondergrens in het traject van 0,1 MQ ... .9.9 MQ met een resolutie van 0,1 MQ
verstelbare meettijd: 3 s ... 3 min met een resolutie van 1 s en optie continue-test
Detectie van een gevaarlijke spanning alvorens een meting
ontladen van het testobject
Voor R <1000 KΩ de nauwkeurigheid is niet gespecificeerd.
= 500 V: 500 kQ ... 599,9 MQ
N
Aanwijzing
E1
E2
E3
E7
= 1000 V: 500 kOhm ... 599,9 MQ
N
Aanwijzing
E1
E2
E3
E7
PAT-80 ● PAT-85 ● PAT-86 - Gebruiksaanwijzing
Resolutie
1 kOhm
0,01 MQ
0,1 MQ
Extra fundamentele onzekerheid
0% voor R ≤ 20 MQ
Niet gespecificeerd voor R> 20 MQ
Resolutie
1 kOhm
0,01 MQ
0,1 MQ
Extra fundamentele onzekerheid
0% voor R ≤ 20 MQ
Niet gespecificeerd voor R> 20 MQ
Nauwkeurigheid
(5% mv + 8 digits)
0%
0%
0,1% / ° C
Nauwkeurigheid
(5% mv + 8 digits)
0%
0%
0,1% / ° C
83