IEC 804
Omschrijving
- 11.2
29
Leq / LE bereik waarbinnen het instrument voldoet
30
Toegelaten kabels en accessoires met betrekking tot de EMC test
31
De configuratie voor het normale gebruik
32
Vermindering in performance t.g.v. statische elektriciteit
33
De configuratie voor de referentie oriëntatie
Instelling en configuratie met de grootste emissie van
34
hoogfrequente straling
Instelling met minimum immuniteit voor elektromagnetische
35
velden
( IEC 60804:2000 - 11.2, 29 - 35)
- ix -
Blz.
136
136
136
136
136
136
136