F
= 0,19 %
TP
Bepaling temperatuurfout secondary device:
F
= F
x F
x F
TS
TBasis
MZ
TD
F
= 0,15 % x 1 x 1,5
TS
F
= 0,23 %
TS
Bepaling van de totale temperatuurfout:
F
= √((F
)
+ (F
)
)
2
2
T
TP
TS
F
= √((0,19)
+ (0,23)
2
T
F
= 0,3 %
T
3. Bepaling meetafwijking en langetermijnstabiliteit
De benodigde waarden voor meetafwijking F
technische gegevens:
Meetafwijking
Nauwkeurigheidsklasse
0,05 %
0,1 %
0,2 %
Tab. 20: Bepaling van de meetafwijking uit de tabel: F
Langetermijnstabiliteit
Meetbereiken vanaf
Tijdsperi-
ode
0 ... +0,1 bar
(0 ... +10 kPa)
Een jaar
< 0,05 % x TD
Vijf jaar
< 0,1 % x TD
Tien jaar
< 0,2 % x TD
Tab. 22: Bepaling van de langetermijnstabiliteit uit de tabel, over een periode van een jaar: F
mary en secondary device)
Berekening van de langetermijnstabiliteit
F
= 0,05 % x 1,49= 0,075 % (primary)
staafP
F
= 0,05 % x 2 = 0,1 % (secondary)
staafS
Berekening van de totale langetermijnstabiliteit:
F
= √((F
)
+ (F
2
stab
stabP
stabS
F
= √((0,075)
+ (0,1)
2
stab
F
= 0,13 %
stab
Zonder procesaansluiting G½ (ISO 228-1)
18)
VEGABAR 82 • Secondary-device voor elektronisch drukverschil
)
2
TD ≤ 5 : 1
< 0,05 %
< 0,1 %
< 0,2 %
Meetcel ø 28 mm
Meetbereik
0 ... +0,025 bar
(0 ... +2,5 kPa)
< 0,1 % x TD
< 0,2 % x TD
< 0,4 % x TD
)
)
2
)
2
en langetermijnstabiliteit F
Kl
Alineariteit, hysterese en niet-herhaalbaarheid.
= 0,1 % (primary en secondary device)
Kl
Alle procesaansluitin-
gen
18)
< 0,1 % x TD
< 0,2 % x TD
< 0,4 % x TD
zijn opgenomen in de
stab
TD > 5 : 1
< 0,01 % x TD
< 0,02 % x TD
< 0,04 % x TD
Meetcel ø 17,5 mm
Procesaansluiting
G½ (ISO 228-1)
< 0,25 % x TD
< 0,5 % x TD
< 1 % x TD
= 0,05 % x TD(pri-
staaf
10 Bijlage
69