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MESURE ET CONTRÔLE DE L'EXPOSITION
MODES DE MESURE DE L'EXPOSITION
Le Leica X-E vous propose 3 méthodes de mesure de l'exposition différentes.
Elles permettent de s'adapter à la luminosité ambiante, à la situation ainsi qu'à
vos habitudes de travail et à vos besoins personnels.
Dans le menu, sélectionnez Mode de mesure (3.4), puis dans le sous-menu,
le réglage souhaité.
MESURE SUR PLUSIEURS CHAMPS -
Avec cette méthode de mesure, l'appareil photo analyse par lui-même la
différence de luminosité sur le sujet et applique le modèle de répartition de
la luminosité programmé sur la situation probable du sujet principal. Il choisit
également la meilleure exposition correspondante.
Cette méthode s'adapte donc particulièrement bien aux prises de vues spon-
tanées peu élaborées mais sûres, même dans des conditions difficiles, ainsi
qu'à une utilisation conjointement avec une programmation automatique de
l'exposition (voir p. 48).
MESURE PONDÉRÉE -
Cette méthode de mesure pondère au maximum la partie centrale du champ
de l'image tout en prenant également en compte les autres zones de l'image.
Elle permet, en particulier avec la fonction de mémorisation de la valeur de
mesure (voir p. 50), un ajustement sélectif de l'exposition sur des parties
spécifiques du sujet tout en prenant en compte de l'ensemble du champ de
l'image.
.
MESURE SPOT –
Ce mode est exclusivement concentré sur une petite zone au milieu de
l'image, représentée par un point vert (2.1.10) sur l'écran.
Elle permet une mesure précise des plus petits détails afin d'obtenir une expo-
sition précise – de préférence en conjonction avec un réglage manuel (voir p. 50)
Pour les prises de vues à contre-jour, par exemple, il convient généralement
d'éviter que l'environnement plus clair entraîne une sous-exposition du sujet
principal. Le champ de mesure nettement plus petit de la mesure spot permet
de cibler de tels détails.
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